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Erfolgreiche Teilnahme des IMR-Teams an der SPIE Optical Metrology 2025 in München

Erfolgreiche Teilnahme des IMR-Teams an der SPIE Optical Metrology 2025 in München

Das Institut für Mess- und Regelungstechnik (IMR) der Leibniz Universität Hannover war mit einem starken Team auf der diesjährigen SPIE Optical Metrology vertreten, die vom 23. bis 26. Juni 2025 in München stattfand. Die Kolleginnen und Kollegen Leon Wiese, Theresa Thiel, Max Brower-Rabinowitsch, Jannis Drangmeister, Peter Shobowale und Adrian Kaune präsentierten aktuelle Forschungsergebnisse und innovative Ansätze aus dem Bereich der optischen Messtechnik.

Die SPIE Optical Metrology ist eine der führenden internationalen Konferenzen für optische Messtechnik und bietet ein Forum für die neuesten Entwicklungen in den Bereichen:

  • Optische Messtechnik und Sensorik
  • Modellierung und Simulation
  • Bildgebung und Inspektionsverfahren
  • Anwendungen der Photonik in Industrie und Wissenschaft

Das IMR-Team nutzte die Gelegenheit, sich mit internationalen Fachkollegen auszutauschen, neue Impulse für die eigene Forschung zu gewinnen und die Sichtbarkeit des Instituts auf dem internationalen Parkett weiter zu stärken.

Wir gratulieren allen Teilnehmenden zu ihrem erfolgreichen Beitrag und danken für das Engagement, mit dem sie das IMR auf der SPIE Optical Metrology 2025 vertreten haben!