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SPIE Optical Metrology 2015 in München

Dipl.-Ing. Steffen Matthias und M. Sc. Yinan Li halten auf der Konferenz SPIE Optical Metrology 2015 in München am 22. und 25. Juni einen Vortrag zu den Themen "Endoscopic fringe projection for in-situ inspection of a sheet-bulk metal forming process" und "Development of a compact low coherence interferometer based on GPGPU for fast microscopic surface measurement on turbine blades".