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SPIE COS Photonics Asia

Vom 11. - 13. October 2018 nehmen Dipl.-Ing. Rüdiger Beermann, M. Eng. Hang Luo, Dipl.-Ing. Stefan Töberg und Dr-Ing. Yongkai Yin an der Konferenz Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V und Dipl.-Tech. Math. Christopher Schindlbeck an der Konferenz Optical Design and Testing VIII unter dem Dach der SPIE COS Photonics Asia in Beijing, China teil.

Vor Ort werden in Reihenfolge der genannten Personen folgende Vorträge gehalten:

  • 2D refractive index field measurements in air in different pressure scenarios
  • Robust direct vision-based pose tracking using normalized mutual information
  • 3D reconstruction of particle agglomerates using multiple scanning electron microscope stereo-pair images
  • Rotation axis estimation for the derotator calibration with machine vision measurement of the auxiliary laser
  • Wavefront predictions for the automated assembly of optical systems